Microscopía Electrónica de Barrido

 

El DCM cuenta con dos microscopios SEM, uno de ellos con cañón de emisión de campo SEM-FEG. Ambos microscopios están asociados al Sistema Nacional de Microscopía.

 

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SEM-FEG FEI Nova Nano Sem 230

Este microscopio electrónico de barrido cuenta con un cañón de electrones de emisión de campo (FEG) que permite trabajar en modo de alta resolución especial para el estudio de nano-materiales y está equipado con una amplia variedad de detectores que garantizan su versatilidad para diferentes aplicaciones. Además de contar con los clásicos detectores de electrones secundarios (SE) y retrodispersados (BE), cuenta con un detector SE “in-lens” o "through-the-lens" (TLD-SE) que permite alcanzar una resolución de hasta 1 nm a 15 kV y 1.6 nm a 1kV. La capacidad de trabajar con un voltaje de desaceleración o “landing”, permite minimizar el daño sobre el espécimen y trabajar con muestras aislantes sin necesidad de recubrimientos conductores. El microscopio cuenta además con un detector de rayos-X para realizar análisis químicos cuantitativos y mapeos químicos por espectroscopia dispersiva en energía (EDS), un detector de difracción de electrones retrodispersados (Electron backscatter diffraction EBSD) que permite realizar mapeos de orientaciones cristalinas, estudios de defectos, bordes de grano, identificación de fases, etc y un detector de electrones difractados transmitidos (Scattering transmited electron microscopy, STEM).

 

 

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SEM Philips 515

Este microscopio electrónico de barrido de baja resolución (>10nm) es ideal para tareas de rutina. Está equipado con un detector de electrones secundarios (SE) y otro dispersivo en energía (EDS).

 

Responsables: Adriana Serquis, Paula Troyon

Información de contacto

Departamento Caracterización de Materiales

Gerencia Investigación Aplicada

Centro Atómico Bariloche

Av. Exequiel Bustillo 9500
Bariloche (8400)
Río Negro - República Argentina
 

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