Espectrometría de masas de iones secundarios

 

El DCM cuenta con un espectrómetro de masas de iones secundarios detectados por tiempo de vuelo (TOF-SIMS). Este equipo se asociará próximamente al Sistema Nacional de Microscopía.

 

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TOF-SIMS 5-100 IONTOF

La técnica TOF-SIMS es una técnica de análisis químico superficial de alta sensibilidad aplicable a distintos tipos de muestras sólidas: metálicas, aislantes, polímeros, muestras biológicas, farmacéuticas, etc. El equipo TOF.SIMS 5-100 permite detectar un rango de masas de hasta > 12.000 amu incluyendo iones (positivos o negativos), isótopos, y compuestos moleculares (polímeros, compuestos orgánicos, y hasta aminoácidos). Además, cuenta con diversos modos de análisis: - Puntual (con resolución en masa hasta M/ΔM > 10000 y sensibilidad hasta 100 ppb), - Mapeo (con resolución espacial hasta < 70 nm), - Perfil de concentración (resolución en profundidad hasta < 1 nm), y - Reconstrucción 3D (combinando la alta resolución en profundidad y la alta resolución espacial). El equipo instalado en el DCM está equipado con un analizador de iones secundarios de tipo reflectrón, una fuente de iones primarios de BiMn, fuentes de O2 y de Cs para sputtering de baja energía, fuente de FIB para seccionado transversal, fuente de clúster de Ar para sputtering de materiales orgánicos, sistema de compensación de carga para muestras aislantes, sistema de entrada de gases para la exposición de la muestra a gases reactivos o inertes (O2 o Ar), plataforma de enfriamiento y calentamiento de muestras entre -150 y 600°C, y recipiente de transferencia de muestras sensibles a la atmósfera.

 

 

 

 

Responsables: Laura Baqué, Adriana Serquis

Información de contacto

Departamento Caracterización de Materiales

Gerencia Investigación Aplicada

Centro Atómico Bariloche

Av. Exequiel Bustillo 9500
Bariloche (8400)
Río Negro - República Argentina
 

Tel: +54 (0294) 444 5100 int. 5389
E-mail: dcm@cab.cnea.gov.ar


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