Workshop de difractometría de rayos X

 

El 18 de enero se llevó a cabo el worksop "Técnicas disponibles en el difractómetro de rayos X Empyrean: Mediciones de textura, tensiones residuales, reflectometría y cámara de alta temperatura" en el Edificio Esparza del Centro Atómico Bariloche.

El difractómetro de rayos X Empyrean (PANalytical) es una facilidad adquirida por la Gerencia de Física, gestionada y ubicada en la Gerencia de Materiales para aplicaciones múltiples. El equipo cuenta con una serie de complementos que permiten emplearlo en una variedad muy interesante de configuraciones.

En la ocasión, se introdujo el funcionamiento del Sistema Nacional de Rayos X, para luego abocarse al equipo en particular. Los usuarios más frecuentes de las distintas técnicas brindaron un pantallazo del tipo de mediciones que pueden realizarse, los alcances y limitaciones de cada técnica así como los requisitos que las muestras deben satisfacer en cada caso.

Los oradores fueron Adriana Serquis, Florencia Malamud, Álvaro Moya, Gladys Nieva, Federico Napolitano, Julio Guimpel y Cynthia Quinteros.

 

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